LAN接口（远程控制）
产品名称
型号
备注
主机
半导体特性曲线图示仪
CS-3100
3000V /无高电流模式- CS-301 / CS-500
半导体特性曲线图示仪
CS-3200
3000V / 400A（高电流模式）- CS-302 / CS-500
半导体特性曲线图示仪
CS-3300
3000V / 1000A（高电流模式）- CS-302 / CS-500
测试台
S型测试台
CS-301
CS-3100标配
M型测试台
CS-302
CS-3200 / CS-3300标配
测试适配器
测试适配器
CS-500
主控装置附送1个测试适配器
TO型测试适配器
CS-501
适用于TO型封装（3个引脚）的插口
鳄鱼夹
小型鳄鱼夹（红色） x 10
CS-001
M型测试台选件：CS-302
小型鳄鱼夹（黑色） x 10
CS-002
M型测试台选件：CS-302
软件选件
半导体参数搜索
CS-800
该软件选件需与CS-3000系列配合安装
半导体参数测量
CS-810
主控装置中装有CS-800时，该选项可以在PC（可选）上使用。
半导体特性曲线图示仪 CS-3100 CS3300 TEK370A Iwatsu (岩崎),
产品特点
显示屏: 8.4″ 彩色TFT液晶显示屏
正确测试半导体如IGBTs, MOSFETs, 晶体管和二极管的佳解决方案
采用电路图模式显示内部的配线状态 (CONFIGURATION), 更好地避免模块测试时的误操作(附图)
WAVE模式: 能确认实际印加电流和电压波形的监察模式 (附图)
可以像示波器一样通过观察模块上实际印加电流和电压的波形来确定脉宽和实际测试点 (Timing)
可通关确认实际波形, 适时调整脉宽和测试点
避免示波器的探棒影响, 可确认实时的异常信号
可非常容易地确认模块发热等引起的振荡等热异常情况
可实现SiC和GaN等器件的电容测试 (选件CS-603A/CS-605A)
可实现晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A)
标配LAN和USB接口
标准配置 (主机背面)
测试点数可调整.可根据需要的扫描速度及分辨率来设置. 根据不同用途可改变扫描方向. 同时具有客户功能, 可以仅对某一段进行扫描, 特别是在自动测试时可以实现高速且高分辨率的测试(附图)
限制扫描功能 (选件CS-800)
在一般的扫描测试中加入电流, 电压的限制功能. 限制在被测模块上印加的电流值, 电压值以起到保护作用. 也可在达到目标值时停止扫描(附图)
Vth-hFE自动检测功能(选件CS-800)
可在条件设㝊后进行自动测试, 避免了之前的繁杂操作
Constant 功能 (选件CS-800)
可印加规定电压或规定电流. 与CS-810半导体参数测试软件配合使用时, 可使用半导体曲线图示仪进行自动疲劳测试
温度特性测试 (选件CS-810)
通过CS-810半导体测试软件对曲线图示仪, 扫描系统, 加热板的自动控制, 实现温度特性评估试验的全自动测试 (附图)
CS-810是一个可安装于电脑中的选件应用软件. 通过以太网控制图示仪, 扫描系统, 加热板等设备, 经简单的设置后就可将一直以来只能手动测试的曲线图示仪实现全自动化测试, 大幅地提升工作效率
全自动化测试:测试→记录→判断. 提高品管和品检的工作效率 (附图)
