高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的的一项测试箱。WDCJ-100
具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，完全有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角;完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，设备的长期可靠性
可设定循环次数及除霜次数自动（手动）除霜.出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为10秒内完成，贝尔品牌冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。
冷冻系统采用复迭低温回路系统设计，冷冻机组采用欧美原装进口压缩机，并采用对臭氧系数为零的绿色环保（HFC）制冷剂R507，R23.安全保护功能：电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、超温保护、报警声讯提示等。
用于测试零部件承受温度迅速变化之耐力，三箱式冷热冲击试验箱即适用于质量控制的实验室又可满足生产过程中筛选商用和产品。蓄热式冷热冲击箱不需要使用液态气体（LN2 或 LCO2）辅助降温，待测物完全静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体生产线大量选用，可大量节省耗材测试费用，操作快捷。
开始试验曝露时间缩短功能试验区的下风温度达到曝露温度后，转换到下一个曝露的功能前处理/后处理功能。在循环试验开始前或结束后，试样被曝露在高温环境中（热处理）维持一定时间干燥运转功能试验结束后，低温箱可以在干燥条件下运转一定的时间。
