玻璃绝缘子自爆的原因可分为产品自身质量原因与外部运行环境原因两类，实际案例往往同时存在两种原因。
玻璃绝缘子自爆原因
产品质量原因主要是玻璃绝缘子玻璃件内部含有杂质颗粒，常见的是NIS颗粒。NIS在玻璃件熔制、退火过程中相变状态不完全，在绝缘子投入运行后认为缓慢相变、发生膨胀，导致玻璃内部产生裂纹。当颗粒杂质的直径小于一定值，可能无法通过冷热冲击予以剔除，导致运行中绝缘子自爆率过高[500kV输电线路钢化玻璃绝缘子集中自爆现象分析_谢洪平]。杂质颗粒位于玻璃件的内部张应力层时，产生自爆的概率更高，因玻璃本身是一种脆性材料，耐压但不耐拉，所以玻璃的大部分破碎是张应力引发的。
电气性能：玻璃介质在标准冲击波作用下，其电击穿强度为1350～1700 kV／cm，约为瓷的3．8倍。国内外曾多次用波头陡度很大的冲击波进行试验．结果均为大气闪络，而玻璃体未被击穿，运行经验也证明了玻璃绝缘子不会被雷电所击穿。
电压分布：由于玻璃的介电常数大，使得玻璃绝缘子有较大的主电容，成串的电压分布较均匀，玻璃绝缘子串片电压低于瓷的片电压，从而减步无线电干扰，降低电晕损耗，延长玻璃绝缘子寿命，同时也提高了玻璃绝缘子成串闪络电压。
如何选择合适的爬距就成了一个大问题。这一方面是由于国内外对复合绝缘子在直流电阻下的耐污型能研究太少；另一方面是由于直流复合绝缘子运行经验也很少，对其在各种污秽下的积污规律还不够清楚，可供参考的数据太少；问题的第三方面还在于即使在同样污秽下，瓷绝缘子在正负极性下的污闪电压也有明显差异，即存在所谓极性效应，而且由于极性效应的影响，同样形状、爬距的瓷绝缘子在相同的污秽度下直流污闪电压比交流污闪电压有效值还低，即直交比小于1.0。因此在复合绝缘子用于直流系统时爬距的选择就需引起格外注意，既不应当出现按照交流污闪特性选择爬距导致的频繁跳闸，也不必盲目过分加大爬距，伞裙过密不利于绝缘子的自清洗，也容易造成伞裙间的桥接，对提高污闪及湿闪电压可能收效甚微，甚至适得其反。
