参照标准
GB/T2423.1-2008试验A低温试验方法
GB/T2423.2-2008试验B高温试验方法
GB-T10592-2008高低温箱技术条件
GJB150.3-1986设备环境试验方法：高温试验
GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求
产品别名
高低温冲击试验箱/温度快速变化试验机/冷热冲击试验箱
高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的的一项测试箱。WDCJ-100
箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。可立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。
