X射线测厚仪利用X射线管通电产生X射线作为信号源，根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换检测薄膜的厚度，它的特点是放射物质能量低，无需使用许可证，测量精度高，可测量透明或不透明材料，不受添加剂和色母料的影响，不受环境温度和薄膜抖动影响。
检测头采用电离室和电子前置放大器组成电离室检测头，离子室设计具有大空间，高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元，延长系统的使用寿命。
本系统配备有冷却装置，该装置的关键部件，压缩机组均采用进口原装组件，具有可靠性高、噪音小、控温精度高，等特点。通过C型架上进出油口进行冷却。延长了关键部件的使用寿命。
