LAP-W2000H 激光粒度分析仪主要性能特点：
★光路设计：LAP-W2000H 采用会聚光傅立叶变换测试技术在短的焦距获得大量
程，有效提高仪器的分辨能力；高密度探测单元，让 LAP-W2000H 拥有了小颗粒测试
能力，高密度探测单元使 LAP-W2000H 具有全量程无缝测试能力，高配版采用了双光路设计。
★防尘、防震设计：仪器整体进行了密封设计，大幅提高了内部元器件使用寿命。悬浮式
结构能有效避免外界震动对仪器的干扰，使结果测试准确。
★双光路双激光器：LAP-W2000H 高配版采用了双光路多镜头设计，主光采用高稳定、命的
进口光纤半导体激光器，辅光采用高稳定、命的进口光纤半导体激光器（λ=635nm, p>5mW）。
★自动对中：采用机械中心与光学中心相结合技术，光路自动调整定位准确，达到微米级别；
同时光路调整速度个更快捷快 15 秒即可完成调整。自行研制的自动对中系统包括步进电机、
导轨、控制器以及软件系统组成，小步距 0.2 微米，激光束焦点始终从探测器中心点
穿过，提高测试结果的准确性以及测试的重复性。自动对中系统是耐克特所有型号激光粒度仪的标准
配置。
★微量循环系统：整个分散循环系统进行了优化设计，分散介质大于 180 毫升即可循环测试，
真正达到了微量循环测试；所有接头采用了速插快拧设计，短时间内即可更换全部管道；优化的设计
排水后无废夜残留，了下一次测试结果的准确性。
★超宽量程：LAP-W2000H 量程达到了 0.01μm～2000μm。
★超声防干烧：LAP-W2000H 配备了 100W 大功率超声，同时具有超声防干烧功能。
★误操作保护：LAP-W2000H 具有自我保护功能，对一些会损害仪器的误操作不响应，大大降低
了因人为误操作造成的损坏。
★露点测量：样品窗结雾会影响测量的准确性，这样的测试结果没有实际意义，LAP-W2000H 加
装了有雾点测量系统，一旦起雾软件会自动提示。
★免排气泡设计：设计使整个测试过程不会有气泡进入测试样品窗，避免了气泡干扰（免
排气泡功能技术我们拥有）。
★样品不残留设计：仪器管道及排水结构进行了优化设计，仪器管道、循环泵内无积液残留，避
免对下一次测试数据的影响；干法测试同样进行了不残留设计。
★样品窗快换装置：设计的样品窗快换装置，使样品窗更换更方便快捷（20 秒钟即可完成样
品窗的拆装过程）。
