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仙桃薄膜厚度测量仪电话

更新时间:2023-06-14 05:47:33 [举报]

起初广泛使用的厚度测量工具是卡尺、螺旋测微器、测厚表等,但随着科技的进步、社会的发展,常用的测厚方法有射线测厚法、超声波测厚法、光学测厚法、机械测厚法等,虽然厚度检测方法众多,但从综合程度上看,在线测厚系统更多的还是采用激光测厚仪。

激光测厚仪适用板材种类多,止水带、轧钢、有色金属、橡胶、塑料、木板、钢板、带钢、水泥板、合金板等均可在线检测。

可广泛用于生产线上对各种材料的厚度、宽度、轮廓的实时测量, 具有非接触测量、不损伤物体表面、无环境污染、抗干扰能力强、精度高、数据采集、处理功能全等特点,已成为我国工业生产线产品质量控制的重要设备。采用激光测量法,连续对被测物进行非接触、无损伤厚度测量,采样速度快精度高,性能稳定,操作简单,可设定测值上下限,超出界限值时主机自动报警。对板材、带材进行非接触、连续、快速在线测量。适用于冷轧带钢、铜、铝和其他金属材质的带材、箔材及玻璃、橡胶等非金属板材厚度测量。并可输出厚差信号,参予闭环调节,实现厚度的自动控制。

X射线测厚仪利用X射线管通电产生X射线作为信号源,根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换检测薄膜的厚度,它的特点是放射物质能量低,无需使用许可证,测量精度高,可测量透明或不透明材料,不受添加剂和色母料的影响,不受环境温度和薄膜抖动影响。

激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的,上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量,相对接触式测厚仪更,不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。

X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,已达到要求的轧制厚度。

薄膜测厚仪根据程序预先设定的计算公式,通过组合不同的标样厚度并将其置于射线下测量,以得到一组基准数据,并存于PLC中。

用于实际测量,系统工作时轧制带材通过射线照射,测量头接收后,转化为电压信号,此电压值与全量程标定模块中所储存的基准数据相比较,通过程序中预先设定的计算公式计算后得到相应的厚度。

薄膜测厚仪由于铝合金板材牌号众多,合金含量各不相同,而X射线对不同合金的吸收率是有差别的,为了弥补这种差别本系统增加了合金补偿功能(此功能类似于全量程标定功能)

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