半导体测试#分立器件测试#光耦测试#晶振
内容简介 半导体静态/动态测试,晶振测试,光耦测试,可靠性测试
针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半导体测试产品，广泛应用于半导体企业测试计量、封装测试、IDM测试、晶圆测试、DBC测试以及科研教学、智能电力、轨道交通、新能源汽车、白色家电等元器件应用端产业链的来料检验、器件选型及军工院所、实验室的数据验证分析和研发指导等。
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