产品别名 |
镀层测厚仪 |
面向地区 |
全国 |
测定对象 |
铁 |
测量范围 |
0-10um |
加工定制 |
是 |
电镀层镀层测厚仪它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
分析含量一般为1ppm到99.9%
镀层厚度一般在50um以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
温度适应范围：15度到30度
产品名称：能量色散X荧光光谱仪
分析原理 能量色散X射线荧光分析法
应用领域 固废土壤分析，不锈钢、铜合金、铝合金等合金分析，ROHS无卤分析，镀层测厚分析，有色、黑色金属矿分析仪，非金属氧化物分析，煤灰、炉料分析等
工作条件
工作温度：18-22℃
相对湿度：40%-60%
电 源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz
测定条件：大气环境
探测器系统：
美国Amptek硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比，佳分辨率：140±5eV；新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高，在合金检测中效果好。
散热系统：
机身前后有多个散热孔散热，机身内有3个风扇进行风冷，X光管进行涂层高温降热树脂后散热片包裹，再有1个风扇对其吹风散热。
最近来访记录
