测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充 测试时间 开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT) 元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT) 测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ 电晶体/二极体: 0.1V至9.99V 电容:1.0PF至100mF Zener Diode: 标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V 电感:1.0UH至60H 隔离点电路 隔离点自动选择,每测试步骤5点 测试值上下限设定范围 上限:+1%至999% 下限:-1%至-99% 可测电路板尺寸 标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高) 选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做. 主控制电脑 Pentium等级以上PC 监视器 15〃夜晶显示器 记忆设备 3.5 1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台 列印机 标准配备:微型印表机 *其它选购配备 Windows作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文） Trace Level 图形显示检修软体。
5001E满足电子产业中各类产品对测试环境不同之要求，所推出之全系列产品之一。其切换电路板乃应用且高寿命之机械式Reed Relay，适用模拟产品及高压电流之检测，并可整合动态量测 。而高密度之设计及软件技术，使TR518FR之测点可高达2560测试点，其速度亦较传统的ICT快80%以上。 5001E在线测试仪规格参数 测试点数 标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点 测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充 测试时间 开路/短路测试:每1000点约1.5Sec(Typical DUT) 元件测试:每一元件约0.8mSec至30mSec(Typical DUT) 测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体: ±5V 电容:1.0PF至40mF Zener二极体: 标准配备,0.1V至48V
二手德律ICT 二手TR-5001E元件测试仪 强大的软件作业环境: 使用Windows7作业系统 电脑自动学习并自动产生测试程式 电脑自动隔离点选择功能 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式 完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据 系统具自我诊断功能及远端遥控功能 BoardView 功能 完善的硬体架构设计 使用USB介面 的Reed Relay Switching 设计 可程式化开/短路Threshold设定， 适用各类产品量测 适用于不同操作介面 高密度 Switching Board 多重安全性设计 100伏高压定电流源 的测试技术整合.
二手TR-5001E元件测试仪 性，成本低，适合选择 美国安捷伦公司针对SMD IC接脚开路难以完整侦测的问题，成功的研发出Agilent TestJet Technology的技术以因应。本公司在取得安捷伦公司的专利授权后，已于JET-300 ICT 系统上配备了此技术，大幅提升了数位电路板的可侦测率。电脑主机板、介面卡或传真机、数据机的机板皆可得到满意的测试效果。其应用上的优点如下： 1.Agilent TestJet Technology的功能是利用量测一个铜箔板与IC脚框(Frame) 之间的电容量来侦测接脚的断路与否。此技术无需撰写任何程式，即可做正确而迅速的测试。 2.Agilent TestJet Technology可测试各种不同包装的IC, 如 Insertion type，PLCC type，QFP type，TAB type，PGA type (无接地者)，BGA type (OMPAC)等都可测试。
模拟硬件
1、六线式量测
2、可编程AC电压源/DC电压源与电流源/DC高电压源
3、AC/DC电压源, DC电流源量测
4、元件R/L/C量
能、的在线测试仪，实测证明电解电容极性可测率高达100％，真正功能价格比优的在线测试仪功能、品质。
的测试技术
1.的电解电容极性测试技术可测率高达100％。
2.开短路及IC保护二极体之测试程式自动学习生成。
3.电脑自动隔离点选择功能，高可达10个点。
4.多连板程式自动生成功能。
5.CMOS+RELAY结合的开关板设计，使测试既快又稳定
6.R.L.C相位分离技术
7.杂散电容OFFSET功能
8.系统自我诊断功能。
9.完整的统计报表功能，资料可自动存储，不因断电而丢失数据。
10.对小电阻使用特殊四线式测试模式，可排除探针与电路板之间不稳定接触电阻.
11.应用IC Clamping Diode特性，检测IC脚位故障及焊接不良。
12.体积小，重量轻，使用灵活，符合高科科技产品轻，薄，短，小的要求。
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