测试步骤 步骤: 12288步骤,可依需求扩充 测试时间 开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT) 元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(Typical DUT) 测试范围 电阻:0.1Ω至40MΩ 电晶体/二极体: 0.1V至9.99V 电容:1.0PF至100mF Zener Diode: 标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V 电感:1.0UH至60H 隔离点电路 隔离点自动选择,每测试步骤5点 测试值上下限设定范围 上限:+1%至999% 下限:-1%至-99% 可测电路板尺寸 标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高) 选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做. 主控制电脑 Pentium等级以上PC 监视器 15〃夜晶显示器 记忆设备 3.5 1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台 列印机 标准配备:微型印表机 *其它选购配备 Windows作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文） Trace Level 图形显示检修软体。
TR5001E测试仪 二手TR5001E搭配两段式压床将可降低治具成本，此ICT为PCBAs测试之可扩充平台。TR5001E可以依客户的测试需求，提供经济的测试解决方案，并且可完全满足大多数客户之测试要求。TR5001E整合MDA和可选择性的ICT及Functional测试功能于同一平台,可以精简人力，缩短测试时间并提高产能。 二手ICT TR5001E特点 . 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统 . 高测试覆盖率之解决方案 . 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充 . 人性化接口搭配快速又简单的程序发展
主控制电脑
Pentium等级以上PC
监视器
15〃夜晶显示器
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3.5 1.44MB,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台
列印机
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*其它选购配备
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