界面保持了蔡司Xradia Versa 系统一如既往的灵活性,使您更容易设置各种扫描。“定位- 和- 扫描”(Scout-and-Scan) 控制软件同时还可实现基于规程的可重复性,特别适用于原位和4D 研究,让您未来的科研工作更、更有序。
这些来自蔡司的特产品利用对X 射线物理原理和客户应用的深刻理解,以全新的创新方式解决一些极其困难的成像挑战。这些可选模块是基于工作站的解决方案,可轻松获取,简单易用。
蔡司DeepRecon
率先实现基于深度学习的商用重建技术,使您在不影响XRM RaaD 成像能力的情况下,能够实现通量多达10 倍的提高。也保持相同的投影数并进一步改善图像质量。DeepRecon 可特地从XRM 生成的大数据中获取隐藏的机会,并提供由人工智能驱动的高速或显著的图像质量改进。
蔡司XRM 以其特的性能让的原位实验得以实现。这些研究要求样品远离X 射线源,以安放各种类型的原位装置。在传统的微米CT 系统中这一要求大大限制了样品能够达到的分辨率。蔡司X 射线显微镜采用特的两级放大架构和大工作距离高分辨率(RaaD)技术,确保高分辨率原位成像
我们长期专注于半导体材料研究与分析设备的经销和代理,为高校、企业科研工作者提供的分析解决方案。以技能为导向,用科技来解决用户在科研中遇到的难题。的技术工程师和科研工作者进行现场演示和技术交流,打消顾虑,彼此协作,为我国的科研领域谱写新篇章。
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北京瑞科中仪科技有限公司专注半导体材料分析,助力科研机构实现分析。通过对行业的深入剖析,瑞科中仪科技有限公司工作人员已掌握和具备半导体材料分析研究的基本素质,可以根据各领域用户的实际需求为用户提供的解决方案。
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