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丰台商用二手ICT

更新时间1:2024-06-18 07:53:02 信息编号:cepcvj360c244 举报维权
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供应商 深圳市木士电子有限公司 店铺
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何年琪
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3年

产品详细介绍

现金求购SMT测试设备和备件:
ICT在线测试仪:德律TRI518FE、TRI518FR、TRI518II、TRI5001T
ATE功能测试仪:安捷伦Agilnt3070 Series3、Agilent3070 Series5
泰瑞达Teradyne TS124LH、Teradyne TS128LH
Teradyne Spectrum8852、8855、8951
PCBA飞针测试仪:TAKAYA7400、8400、9400、9411
ICT测试板卡:德律518系列DC板、AC板、TCB板、HP TESTJET板、开关板
德律5001系列ATM板、DTM板、SMB板、Hybrid Pin car
ATE测试板卡: 安捷伦agilent3070系列
XTP Control card (E9900-66501)
ASRU N Card (N1807-66550)
Hybrid DD pin car (E4000-66550)
泰瑞达Teradynt TS124/128系列 PIN car 、 PIO car、SYSTEM Controoller
9004-0387 Ultra 124L
9004-0386 Ultra 128L
Ultra-2 128 pin 026-001-30
Ultra-2 256 pin 026-101-90

销售、租赁、SMT测试设备 德律泰:TRI518FV、TRI518SII、TRI5001E、TRI8100LV、 安捷伦:Agilent3070、Keysight i3070、Agilent i1000 泰瑞达:Teradyne TSLH TSLX PCBA测试飞针:TAKAYA APT-9401 APT-1400 提供工厂闲置机器及测试配件板卡回收以及维修保养安装培训等服务。 并在全国建立了强大的服务网络,确保为客户提供的服务。

求购以下测试设备: 德律泰:TRI8100LV 、TRI5001E 、TRI518SII 安捷伦:agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达:Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针:ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c 测试机配件板卡:agilent3070 i1000 数字开关板、 XTP Control car、 ASRU CAR 泰瑞达 Teardyne pin car Ulta2 SYSTEM CONTROLLER TRI8100LV ATM Car 、pin car、 TRI5001E :ATM SMB 数字开关板、DUT电源板 以上设备测试设备和配件都打包回收, 不管设备好坏,闲置,需要处理.

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安捷伦科技公司(Agilent)日前宣布其Medalist i1000D在线测试系统现已具有数字测试能力。
i1000D成为迅速成长和填补高功能性在线测试仪与低端制造缺陷分析仪间空缺的解决方案。
为向对成本敏感的制造商提供具有模拟和数字能力的解决方案,解决当前极为复杂的印制电路板组件(PCBA)各种问题,i1000D提供:
·每一引脚的编程能力
·基于数字 PCF/VCL 库的测试
·标准的内建边界扫描测试
·I2C/SPI 串行编程
·简单、的长线测试夹具
·灵活而易于使用的图形用户界面
这些特长为寻求更好测试覆盖而不增加测试成本的客户提供了机会。
i1000D包括标准的内建边界扫描测试能力和具有安捷伦新获奖的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加电无矢量测试套件。

安捷伦:agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达:Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针:ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c..
完善的自检功能,保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份,保障数据无丢失
可测IC(集成电路)插错、插反,管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能,提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术,可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用,可对元器件进行一致性检测
的测试覆盖率和分辨率,可测光电耦合器、电位器、接插件、晶振等器件
波形显示的配合调程,测量值更加合理

ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高,功能越来越强,封装越来越小,SMT元件的增多,多层板的使用,PCB板元件密度的增大,要在每一个节点放一根探针变得很困难,为增加测试点,使制造费用增高;同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难,开发周期延长。

所属分类:二手仪器仪表/二手检测仪器

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