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苏州回收开关IC收购闪迪CF卡

更新时间1:2024-06-14 01:44:43 信息编号:6d30k7icg618be 举报维权
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供应商 深圳市龙岗区银源电子商行 店铺
认证
报价 人民币 999.00元每件
关键词 回收硬盘,回收开关IC,收购闪迪CF卡,收购耳机主板
所在地 深圳市龙岗区
王生
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2年

产品详细介绍

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半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。

所属分类:电子元器件回收/电子废料回收

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